Center for Matrials Characterization and Testing, Fraunhofer Institute for Industrial Mathematics  /  05/30/2017

Optence Messtechnik Symposium

[only available in German]

In der heutigen Produktion haben die meisten gefertigten Teile eine oder mehrere Beschichtungen, die den Teilen entweder einen Schutz bieten sollen oder sogar über die Funktion des Bauteils entscheiden. Die Prüfung der Dicken aufgebrachter Schichten ist daher ein wichtiger Bestandteil in der Qualitätskontrolle. Um die Produktion nicht durch den Messprozess zu beeinträchtigen, sind berührungslose Messtechniken von großer Bedeutung.
Im Symposium werden unterschiedliche Methoden der berührungslosen Schichtdickenbestimmung und ihre Einsatzmöglichkeiten vorgestellt.

Zielgruppe des Symposiums sind vorwiegend Firmen und Institute, welche sich mit dem Aufbringen und Charakterisieren von Schichten unterschiedlichster Materialien und Funktion beschäftigen.

Kooperationspartner der Veranstaltung sind das Fraunhofer ITWM und die DGaO.

 

A team of experts from the »Image Processing« department and the »Center for Material Characterization and Testing« presents news on non-contact layer thickness measurement and 3D terahertz testing.

Speakers: Dr. Frank Ellrich and Dr. Fabian Friederich.