Die SPIE Photonics West ist eine der weltweit größten Veranstaltung für Photonik-Technologien.
Mit drei Konferenzen (BIOS, LASE, OPTO) und einem breiten Themenspektrum (Biomedizinische Optik, Biophotonik, Industrielaser, Optoelektronik, Mikrofertigung, MOEMS-MEMS, Displays und mehr) ist die Konferenz ein geeigneter Ort zum Austausch und Vernetzen.
Das Programm setzt sich auf drei Konferenzen mit unterschiedlichen Themen und zwei Fachmessen zusammen. Wir sind mit Experten unserer Abteilung »Materialcharakterisierung und -prüfung« vor Ort. Wir präsentieren mehrere Vorträge, unsere Experten sind Sitzungsleiter und zeigen wissenschaftliche Poster zu den Themen:
Besuchen Sie uns!
Session 1 zum Thema: »Opto-electronic Nano-devices«,
Ort: Raum 213 (Südebene 2)
8:50 bis 10:00 Uhr
Sitzungsleiter: Georg von Freymann, Abteilungsleiter »Materialcharakterisierung und -prüfung« und Prof. TU Kaiserslautern
Session 4 zum Thema: »Applications for DLW«,
Ort: Raum 213 (Südebene 2)
16:00 Uhr: Jonas Gutsche, Alexander Landowski, Artur Widera, TU Kaiserslautern und State Research Ctr. for Optics and Material Sciences, OPTIMAS und Georg von Freymann
zum Thema: »Immersion of nanodiamonds into three-dimensional directlaser-written waveguides«
Session 5 zum Thema: »Phasenmasken, Phantome und Standards«,
Ort: Raum 213 (Südebene 2)
11:30 bis 15:40 Uhr
Sitzungsleiter: Georg von Freymann
11:30 Uhr: Julian Hering, Matthias Eifler, Fabian Krull, Matthias W. Klein, Marek Smaga, Tilmann Beck, Sergiy Antonyuk, Jörg Seewig, TU Kaiserslautern und Georg von Freymann
zum Thema: »Two-photon laser lithography in the field of engineering«
Session 6 zum Thema: »Curved-space and Topological Photonics«,
Ort: Raum 213 (Südebene 2)
14:10 Uhr: Christina Jörg, Christoph Dauer, Fabian Letscher, Michael Fleischhauer, Sebastian Eggert, TU Kaiserslautern und Georg von Freymann
zum Thema: »3D printed photonic topological insulators and the stability of a topological edge mode under time-periodic driving«
14:50 Uhr: Julian Schulz, Christina Jörg, TU Kaiserslautern und Georg von Freymann
zum Thema: »Robustness of a Thouless pump in case of local site-exchange perturbations«
Session 7 zum Thema: »Biomimetic Structural Color«,
Ort: Raum 213 (Südebene 2)
16:30 Uhr: Marie-Christin Heep, Dominic Thomas Meiers, TU Kaiserslautern und Georg von Freymann
zum Thema: »Mimicking the optics of white beetles«
Session 6 zum Thema: »Terahertz Sources«,
Ort: Raum 305 (Südebene 3)
14:00 bis 15:40 Uhr
Sitzungsleiter: Daniel Molter
Session 7 zum Thema: »Terahertz Sources and Detectors Based on Nonlinear Optics and Photonic Crystals«,
Ort: Raum 305 (Südebene 3)
16:10 bis 18:10 Uhr
Sitzungsleiter: Daniel Molter
Session 8 zum Thema: »Terahertz Imaging«,
Ort: Raum 305 (Südebene 3)
8:00 bis 10:10 Uhr
Sitzungsleiter: Fabian Friederich und Daniel Molter
Session 9 zum Thema: »Terahertz Nearfield Imaging«,
Ort: Raum 305 (Südebene 3)
10:40 bis 12:20 Uhr
Sitzungsleiter: Fabian Friederich und Daniel Molter
Session 10 zum Thema: »Layer Thickness Determination: Using Terahertz Technology«,
Ort: Raum 305 (Südebene 3)
14:50 Uhr: Fabian Friederich, Caroline Cappel und Nina Schreiner
zum Thema: »FMCW terahertz multilayer thickness determination below the resolution limit«
15:10 Uhr: Tobias Pfeiffer, Jens Klier, Stefan Weber, Daniel Molter, Joachim Jonuscheit, Georg von Freymann (Fraunhofer ITWM); Frank Ellrich, Technischen Hochschule Bingen
zum Thema: »Enhancing terahertz multilayer thickness measurements by interferometric methods«
Session 11 zum Thema: »Fast-Scan Laser-Driven Terahertz Systems«,
Ort: Raum 305 (Südebene 3)
16:50 Uhr: Michael Kolano, Oliver Boidol, Stefan Weber, Daniel Molter und Georg von Freymann
zum Thema: »Single-laser polarization-controlled optical sampling for terahertz time-domain spectroscopy«
Ort: Marriott Marquis Hotel, Golden Gate Ballsaal
18:00 bis 20:00 Uhr
Alle Konferenzteilnehmenden sind zur OPTO-Poster-Session eingeladen. Schauen Sie sich die Poster an, genießen Sie kleine Erfrischungen, stellen Sie Fragen und knüpfen Sie Kontakte zu unseren Experten.
Wir sind mit Poster mit folgendem Thema vor Ort:
Different evaluation techniques for layer thickness determination using terahertz time-of-flight measurements:
Lukas Liebelt, Technische Hochschule Bingen; Frank Ellrich, Jens Klier, Stefan Weber, Daniel Molter, Joachim Jonuscheit und Georg von Freymann
Fraunhofer-Institut für Techno- und Wirtschaftsmathematik ITWM