Materialcharakterisierung und -prüfung

Zerstörungsfrei messen mit Terahertz- und Mikrowellen

Wir entwickeln anwendungstaugliche Messsysteme zur Materialcharakterisierung und -prüfung. Dabei greifen unsere Wissenschaftlerinnen und Wissenschaftler auf Kompetenzen in der optischen System- und Messtechnik, der Spektroskopie und der Entwicklung von Kristall- und Halbleiterkomponenten zurück. Die Technologien reichen von der optischen Kohärenztomographie (OCT) im sichtbaren Spektralbereich über die Zeitbereichsspektroskopie im Terahertz-Frequenzbereich bis zu elektronischen Systemkonzepten im Millimeterwellenbereich.

In der Materialprüfung lassen sich Defekte in Keramiken, Kunststoffen oder auch faserverstärkten Verbundwerkstoffen zerstörungsfrei aufspüren. Besonderes Interesse gilt der Schichtdickenmessung, zum Beispiel in Lackierprozessen. Neben OCT sind hier insbesondere die Terahertz- und Millimeterwellen-Messtechnik eine Alternative zu Ultraschallmessungen, wenn kein mechanischer Kontakt möglich oder gewünscht ist, aber auch zu Röntgenmessungen, wenn ionisierende Strahlen ein Problem darstellen. Zusätzlich zur Dickenbestimmung können mit den Messsystemen die Materialparameter der einzelnen Schichten bestimmt und mittels chemometrischer Auswertemethoden eindeutig und zuverlässig identifiziert werden.

 

Unser Angebot zur Materialcharakterisierung und -prüfung umfasst

• Technologieberatung
• Eignungsprüfungen und Machbarkeitsstudien
• Auftragsmessungen und Messungen beim Kunden
• Entwicklung von Komponenten und individuellen Systemen
• Geräteverleih