Zerstörungsfrei messen mit Terahertz- und Mikrowellen
Wir entwickeln anwendungstaugliche Messsysteme zur Materialcharakterisierung und -prüfung. Dabei greifen die Wissenschaftler auf Kompetenzen in der optischen System- und Messtechnik, der Spektroskopie und der Entwicklung von Kristall- und Halbleiterkomponenten zurück. Die Technologien reichen von der optischen Kohärenztomographie (OCT) im sichtbaren Spektralbereich über die Zeitbereichsspektroskopie im Terahertz-Frequenzbereich bis zu elektronischen Systemkonzepten im Millimeterwellenbereich.