Profil Joachim Jonuscheit

Schwerpunkte/Kompetenzen

  • Optische Messtechnik
  • Konzeption von Inspektionssystemen für die Qualitätskontrolle in der Produktion
  • Projektakquise und Marketing

 

Publikationen

Highlightpublikationen

  • Klier, J.; Weber, S.; Molter, D.; Freymann, G.; Jonuscheit, J.:
    Zerstörungsfreie Schichtdickenmessung an Nassfilmen.
    J Oberfl Techn (JOT Journal für Oberflächentechnik) 59, 9 113-115 (2019).
  • Klier, J.; Kharik, D.; Zwetow, W.; Gundacker, D.; Weber, S.; Molter, D.; Ellrich, F.; Jonuscheit, J.; Freymann, G.:
    Four-channel terahertz time-domain spectroscopy system for industrial pipe inspection.
    IRMMW-THz 2018 2018, 1-2 (2018).
  • Friederich, F.; May, K.H.; Bacchouche, B.; Matheis., C.; Jonuscheit, J.; Moor, M.; Denman, D.; Bramble, J.; Savage, N.:
    Terahertz radome inspection.
    Photonics 5, 1 (2018).

 

Institute of Electrical and Electronics Engineers -IEEE-:
41st International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz waves, IRMMW-THz 2016 : 25-30 September 2016, Copenhagen, Denmark
Institute of Electrical and Electronics Engineers -IEEE-:
41st International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz waves, IRMMW-THz 2016 : 25-30 September 2016, Copenhagen, Denmark