Profil Joachim Jonuscheit

Schwerpunkte/Kompetenzen

• Optische Messtechnik
• Konzeption von Inspektionssystemen für die Qualitätskontrolle in der Produktion
• Projektakquise und Marketing

Publikationen

Highlightpublikationen

• Molter, D.; Ellenberger, K.-S.; Klier, J.; Duran, S.; Jonuscheit, J.; von Freymann, G., Vieweg, N.; Deninger, A.:
  Kilohertz Pixel-Rate Multilayer Terahertz Imaging of Subwavelength Coatings
  Appl. Sci. 12 (10), 4964 (2022).
• Molter, D.; Klier, J.; Weber, S.; Kolano, M.; Jonuscheit, J.; von Freymann, G.:
  Two decades of terahertz cross-correlation spectroscopy
  Applied Physics Reviews 8, 021311 (2021).
• Bauer, M.; Hussung, R.; Matheis, C., Reichert, H.; Weichenberger, P.; Beck, J.; Matuschczyk, U.; Jonuscheit, J.; Friederich, F.:
  Fast FMCW Terahertz Imaging for In-Process Defect Detection in Press Sleeves for the Paper Industry and Image Evaluation with a Machine Learning Approach
  Sensors, 21(19), 6569 (2021).