Modeling and Simulation of FIB-SEM Data

Beschreibung

Die Segmentierung von hochporösen Focus-Ionenstrahl-Sekundärelektronenmikroskopie (FIB-SEM) ist ein ungelöstes Problem. Das Bildgebungsverfahren verursacht mehrere Artefakte, die die effiziente und objektive Identifizierung der Grenze zwischen Matrix und Leerphase verhindern. Daher wurden verschiedene Algorithmen entwickelt, um die Matrix von der Leerphase zu segmentieren. Diese haben jedoch verschiedene Einschränkungen bezüglich der Art der Struktur und der Porosität.

Einer dieser Segmentierungsalgorithmen wurde von Torben Prill in dem Paper "Morphologische Segmentierung von FIB-SEM-Daten von hochporösen Medien" beschrieben und unter Verwendung von FIB-SEM-simulierten Daten validiert, wobei der Gesamtfehler unter dem der Standardmethode lag.

Erweiterungen dieser Arbeit sind möglich durch die Einbeziehung neuer synthetischer Daten mit mehr Strukturen und mehr als einer festen Phase sowie durch Weiterentwicklung der Software-Tools zum Simulation von FIB-SEM Data. Die resultierenden synthetischen Datensätze werden verwendet, um neue Vorverarbeitungs- und Segmentierungsalgorithmen zu validieren.

Status

laufend